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Circuit Design for Reliability

Circuit Design for Reliability

von: Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth
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Preis:
96,29 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch

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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs

Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs

von: Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis
Verlag:
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96,29 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
184

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Design of Systems on a Chip: Design and Test

Design of Systems on a Chip: Design and Test

von: Ricardo Reis, Marcelo Soares Lubaszewski, Jochen A.G. Jess
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149,79 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
297

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Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability

Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability

von: Gustavo Neuberger, Gilson Wirth, Ricardo Reis
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96,29 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
107

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Radiation Effects on Embedded Systems

Radiation Effects on Embedded Systems

von: Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis
Verlag:
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149,79 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
269

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Electromigration Inside Logic Cells

Electromigration Inside Logic Cells

von: Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis
Verlag:
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53,49 €
Format:
PDF
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englisch

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Soft Error Reliability Using Virtual Platforms

Soft Error Reliability Using Virtual Platforms

von: Felipe Rocha da Rosa, Luciano Ost, Ricardo Reis
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96,29 €
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PDF
Sprache:
englisch

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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

von: Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola, Ricardo Reis
Verlag:
Preis:
74,89 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch

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