Details

Helium Ion Microscopy


Helium Ion Microscopy

Principles and Applications
SpringerBriefs in Materials

von: David C. Joy

58,84 €

Verlag: Springer
Format: PDF
Veröffentl.: 13.09.2013
ISBN/EAN: 9781461486602
Sprache: englisch
Anzahl Seiten: 64

Dieses eBook enthält ein Wasserzeichen.

Beschreibungen

Keine Beschreibungen verfügbar

Diese Produkte könnten Sie auch interessieren:

Neutron Applications in Earth, Energy and Environmental Sciences
Neutron Applications in Earth, Energy and Environmental Sciences
von: Liyuan Liang, Romano Rinaldi, Helmut Schober
PDF ebook
192,59 €
Autonomous Robots
Autonomous Robots
von: Farbod Fahimi
PDF ebook
139,09 €
Slurry Transport Using Centrifugal Pumps
Slurry Transport Using Centrifugal Pumps
von: K. C. Wilson, G. R. Addie, A. Sellgren, R. Clift
PDF ebook
128,39 €